手動(dòng)和自動(dòng)SDI測(cè)定儀（Static Decay Investigation）是一種用于測(cè)試電子器件可靠性的設(shè)備。它通常用于評(píng)估半導(dǎo)體器件的電性能和可靠性。SDI測(cè)定儀常見故障及其解決方法如下：

1. 電源故障：首先，檢查SDI測(cè)定儀的電源是否正常。如果電源沒有問題，請(qǐng)檢查電源線是否損壞。如果電源線沒有問題，請(qǐng)檢查電源插座是否正常。

2. 控制系統(tǒng)故障：控制系統(tǒng)故障可能是由于軟件或硬件問題引起的。在這種情況下，請(qǐng)檢查計(jì)算機(jī)是否能夠與SDI測(cè)定儀正常通信。如果無法正常通信，請(qǐng)檢查接口電纜是否損壞或松動(dòng)。

3. 測(cè)試探針問題：測(cè)試探針用于與器件引腳進(jìn)行電連接。如果測(cè)試探針出現(xiàn)問題，可能會(huì)導(dǎo)致測(cè)試結(jié)果不準(zhǔn)確。在這種情況下，請(qǐng)檢查測(cè)試探針是否干凈，是否需要更換。

4. 數(shù)據(jù)分析軟件故障：如果數(shù)據(jù)分析軟件出現(xiàn)故障，可能會(huì)導(dǎo)致測(cè)試結(jié)果無法讀取或分析。在這種情況下，請(qǐng)檢查數(shù)據(jù)分析軟件是否正確安裝和配置，并更新到最新版本。

5. 儀器過載：如果SDI測(cè)定儀長(zhǎng)時(shí)間運(yùn)行并超出其承受范圍，可能會(huì)導(dǎo)致儀器過載。在這種情況下，請(qǐng)減少測(cè)試數(shù)量或增加測(cè)試時(shí)間間隔，以避免儀器過載。

6. 測(cè)試夾具問題：測(cè)試夾具用于固定器件并進(jìn)行測(cè)試。如果測(cè)試夾具出現(xiàn)問題，可能會(huì)導(dǎo)致測(cè)試結(jié)果不準(zhǔn)確。在這種情況下，請(qǐng)檢查測(cè)試夾具是否正確安裝和配置，并確保其沒有磨損或損壞。

7. 測(cè)試系統(tǒng)無法識(shí)別器件：如果在測(cè)試過程中發(fā)現(xiàn)測(cè)試系統(tǒng)無法識(shí)別器件，請(qǐng)檢查器件型號(hào)是否正確、是否有足夠的空氣供應(yīng)以及溫度和濕度是否合適。

通過以上方法排除故障，可以有效地解決SDI測(cè)定儀的常見問題。